<p>Leif Halbo (f. 1938) er utdannet siviling. teknisk fysikk ved NTH (NTNU) 1963, Ph.D. i halvlederfysikk Purdue University, USA '70. Arbeidet som forsker på SI (SINTEF) '70-'83, permisjon som Norad-ekspert ved University of Nairobi 73-75, visiting scientist ved University of Nottingham '71 og ved Cornell University '80. Forskningsleder Elektrisk Bureau/ABB Corporate Research '84-'92, leder for Norsk Akkreditering '92-2001, seniorrådgiver Justervesenet '01- . Professor II i elektronikk ved Fys. inst. UiO 1987-'93 og i kvalitetsstyring og måleteknikk ved Universitetsstudiene på Kjeller/UiO 2002-'09. Forfatter av vitenskapelige artikler og bøker om elektronikk komponent og produksjonsteknologi, kvalitetsstyring og måleteknikk.</p>
